实验二 与非门电路测试实验
实验目的
- 加深对 CMOS 与非门基本特性和主要参数的理解,掌握主要参数的测试方法。
- 熟悉 TTL 与非门的基本特性和主要参数,以及主要参数的测试方法。
实验内容
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测量 CMOS 与非门 CD4011 的平均延迟时间
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测量 CMOS 与非门 CD4011 的电压传输特性
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测量 TTL 与非门 74LS00 的电压传输特性
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测量 TTL 与非门 74LS00 的平均延迟时间
要求
实验 1 和 2 必做,实验 3 和 4 选做。
实验 2 和 3 只要求测出电压传输特性曲线,VOFF、VON等等具体值不要求测量。
注意
实验 4 的电路较为复杂,请在预习时提前设计好。
同时,为了减少下个实验搭建电路时可能出现的问题,建议用电压表 / 示波器 / LED 灯测试以下 74LS00(与非门) / 74LS86(异或门) / 74LS04(非门) 的工作是否正常。如果芯片有问题,请及时找助教和老师进行更换,以免影响下次实验。
实验步骤
平均延迟时间是指与非门输出波形相对于输入波形的延迟,是描述与非门电路工作速度的参数。
tpd = ( tpHL + tpLH )/2
输入信号vi是由信号源输出的方波脉冲,接到与非门的两个输入上,输出vo是与非门输出结果,是vi的反相波形,只要测出vo与vi之间的延迟时间就是与非门的延迟时间。
- 参照实验 1 的内容,使用信号发生器产生 1MHz TTL 方波;
-
连接电路,将方波作为与非门的输入,用示波器的 CH1(通道 1)和 CH2(通道 2)探头分别接入输入和输出;
-
接通电路开关,按下
Auto Scale
键显示波形,通道 2 的波形会出现反相的通道 1 波形,如果波形显示如下,则说明电路电源未接通或开关没开。 -
开始测量:
按测量
Meas
按键,在测量菜单里,在类型
软键中选择延迟时间
,然后设置
软键;在测量设置菜单里,
源1
选 1,选上升沿
,源2
选 2,选下降沿
;使用Back
按钮返回上一级测量菜单,按添加测量
软键,就把通道 1 波形上升沿到通道波形下降沿的延时 tpHL添加到屏幕右侧的测量
栏中;使用同样方式可以将通道 1 波形下降沿到通道波形上升沿的延时 tpLH。当然,也可以使用手动测量的方式分别测量 tpHL 和 tpLH,下图是波形放大后手动测量 tpLH的值。
电压传输特性是指输出电压vo与输入电压vi的函数关系,与非门典型的电压传输特性曲线如下:
注意
由于芯片性能的提升,实际测量出来曲线很难测量出VON,VOFF这些参数,本实验中也不要求。
测量电压传输特性的电路如图所示,其中输入电压vi是低电平为0V,高电平为5V的三角波。将输入的三角波电压vi送至示波器的CH1(通道1)作为X输入端,输出电压vo送至CH2(通道2)作为Y输入端,示波器的时基模式选择XY
,示波器便会显示出电压传输特性曲线。
- 参照实验 1 的内容,使用信号发生器产生 100Hz 0-5V 三角波;
-
连接电路,将三角波作为与非门的输入,用示波器的 CH1(通道 1)和 CH2(通道 2)探头分别接入输入和输出;
注意
这里需要使用时钟模块上的10k电阻,只需要连接10k电阻上方的插线孔即可,电阻另一端已经接地。
-
接通电路开关,按下
Auto Scale
键显示波形,波形显示如下: -
按下
Horiz
按钮,在屏幕下方会出现水平设置菜单
:选择
时基模式
为XY
,波形就会显示成传输特性的曲线。了解一下
这里的
时基模式
中YT
表示的是波形相对于时间的变化曲线,XY
则表示通道 2(Y)相对于通道 1(X)的变化曲线,从而反映了输出相对与输入的变化。
电压传输特性是指输出电压vo与输入电压vi的函数关系,与非门典型的电压传输特性曲线如下:
注意
由于芯片性能的提升,实际测量出来曲线很难测量出VON,VOFF这些参数,本实验中也不要求。
可能是芯片问题
可能是由于所购置的74LS00芯片型号不同或者有翻新芯片的问题,有些芯片测试出来的波形很不规整,经我们测试HD74LS00的实验曲线比较规整,但不保证,请尽量使用此型号芯片,实验中随机应变吧,发现此问题找老师换芯片。
测量电压传输特性的电路如图所示,其中输入电压vi是低电平为0V,高电平为5V的三角波。将输入的三角波电压vi送至示波器的CH1(通道1)作为X输入端,输出电压vo送至CH2(通道2)作为Y输入端,示波器的时基模式选择XY
,示波器便会显示出电压传输特性曲线。
- 参照实验 1 的内容,使用信号发生器产生 100Hz 0-5V 三角波;
-
连接电路,将三角波作为与非门的输入,用示波器的 CH1(通道 1)和 CH2(通道 2)探头分别接入输入和输出;
注意
这里需要使用时钟模块上的10k电阻,只需要连接10k电阻上方的插线孔即可,电阻另一端已经接地。
-
接通电路开关,按下
Auto Scale
键显示波形,波形显示如下: -
按下
Horiz
按钮,在屏幕下方会出现水平设置菜单
:选择
时基模式
为XY
,波形就会显示成传输特性的曲线。了解一下
这里的
时基模式
中YT
表示的是波形相对于时间的变化曲线,XY
则表示通道 2(Y)相对于通道 1(X)的变化曲线,从而反映了输出相对与输入的变化。
由于74LS00的延时时间太短,示波器测量精度不足,需要将其内部的四个与非门进行串联。
因此通道2的输出波形与通道1的输入波形同项,平均延迟时间也需要在原来的基础上再除以4.
tpd = (( tpd1 + tpd2 )/2 )/4
具体测试步骤与CD4011的类似。
- 参照实验 1 的内容,使用信号发生器产生 2MHz TTL 方波;
-
连接电路,将方波作为与非门的输入,用示波器的 CH1(通道 1)和 CH2(通道 2)探头分别接入输入和输出;
-
接通电路开关,按下
Auto Scale
键显示波形,通道 2 的波形会出现同相的通道 1 波形; -
开始测量:
按测量
Meas
按键,在测量菜单里,在类型
软键中选择延迟时间
,然后设置
软键;在测量设置菜单里,
源1
选 1,选上升沿
,源2
选 2,选上升沿
;使用Back
按钮返回上一级测量菜单,按添加测量
软键,就把通道 1 波形上升沿到通道波形上升沿的延时 tpd1添加到屏幕右侧的测量
栏中;使用同样方式可以将通道 1 波形下降沿到通道波形下降沿的延时 tpd2。当然,也可以使用手动测量的方式分别测量 tpd1 和 tpd2。
注意
波形未调好前,不要接入电路
芯片的引脚要垂直插入插座(插到底)
不要忘记给芯片接电源和地
不许带电接插线及更换元件
实验报告要求
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给出实验电路图;
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给出测试波形图,并整理实验测试数据,列出所测与非门电路的参数。
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如果做了选做实验,请根据实验测试结果,比较 TTL 与非门 74LS00 和 CMOS 与非门 CD4011 的性能。